Técnicas de Caracterização de Materiais
Código
9477
Unidade Orgânica
Faculdade de Ciências e Tecnologia
Departamento
Departamento de Ciências dos Materiais
Créditos
6.0
Professor responsável
Rui Jorge Cordeiro Silva
Horas semanais
4
Total de horas
66
Língua de ensino
Português
Objectivos
Esta unidade curricular tem por objectivo fornecer aos alunos formação sobre a funcionalidade e a aplicação de técnicas de caracterização onde se realçam as técnicas de: DRX, FRX, Microscopia Óptica, Microscopia Electrónica, SEM-FIB, Espectroscopia do Infravermelho e UV e Elipsometria Espectroscópica, AFM e Caracterização Eléctrica de Materiais.
Pré-requisitos
Conhecimentos básicos de química, física e de ciência dos materais
Conteúdo
MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE VARRIMENTO(SEM): Detectores de electrões e de radiação X (espectrómetros EDS e WDS). Métodos de contraste de imagem em SEM: contraste topográfico e de número atómico. Análise elementar em SEM-EDS/WDS. Feixe de Electrões focado (FIB)
DIFRACÇÃO E FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X (DRX e FRX). DRX:A lei de Bragg. Cálculo factores de estrutura. Espectrómetro de dispersão em comprimentos de onda. A espectrometria de fluorescência de raios X.
ESPECTROSCOPIAS ÓPTICAS: Espectroscopia de infravermelho (FTIR); de UV-Visível-Infravermelho próximo; elipsometria espectroscópica.
MICROSCOPIA DE FORÇA ATÓMICAS (AFM)
Bibliografia
Principles of Instrumental analysis, D. Skoog & D. West, 1971
Scanning Electron Microscopy, X-ray Microanalysis and Analytical Electron Microscopy; C. E. Lyman, J. Goldstein, D.E.Newbury et al.
X-ray characterization of materials / Eric Lifshin (ed.). WILEY-VCH Verlag GmbH, 1999
The Physics of Thin Film Optical Spectra: An Introduction Olaf Stenzel (Author), Springer;
Handbook of Infrared Spectroscopy of Ultrathin Films, VP Tolstoy, I Chernyshova, VA. Skryshevsky, Wiley-Blackwell
Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, H Fujiwara, VP Tolstoy, Wiley-Blackwell